• 3D光学追踪量测设备_MarvelProbe 反向定位CMM
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MarvelProbe 反向定位CMM

MarvelProbe便携式反向定位CMM，作为独立的产品，既兼容摄影测量模块，可在大场景下用于提高手持系列扫描仪的体积精度，又增加了接触式测量功能，为模俱生产、检具质检和调装检测提供了新的更加灵活便携的测量方式。

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产品特性

  • 反向定位光笔，实现接触式测量功能
  • 结合三维测量软体可快速对形面、关键几何尺寸及形位公差等进行高精度检测；还可设计自动输出检测报告，大大简化质控流程
  • 设计有多角度探针插孔，并配有多型号探针组，可灵活适应不同测量工况；固定场景无需重复标定，可直接测量
  • 边拍照边实时查看计算结果，拍完即可导出标志点，直接用于三维扫描，提升整体空间精度
  • 支持与三维扫描仪配合使用，实现大场景下的精度优化，及接触测量的功能扩展
  • 配备兼具收纳功能的底座，工作之外能有效置放固定

产品规格

型号 MarvelProbe
测量精度 最高0.03mm
单点重复精度 0.03mm
体积精度(CMM测量) 0.05mm+0.02mm/m
体积精度(结合手持扫描仪、摄影测量) 0.02mm+0.02mm/m
景深(最近、最远) 600mm-5000mm
重量 500g
尺寸 65x130x260mm
探针组
型号 M4D3-1805-2-13 M4D6-17-405-1303
测球材料 红宝石
测球直径 3.0mm/6.0mm
加长杆长度 30、60、100mm